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64层堆叠刻蚀选择比干到500:1,国产存储这次绕开的不是光刻机,是过去三十年的密度逻辑

顾泽 2026.09.21

当线宽不再是密度的唯一来源,决定下一代存储节奏的标尺,就从荷兰那台机器手里,悄悄挪到了刻蚀腔体里。

很多人第一眼看到北方华创这篇论文,脑子里冒出来的词是“绕开光刻机”。这四个字太容易让人兴奋了,但恰恰也是最容易把事看浅的地方。根据IT时代网和半导体产业纵横的报道,北方华创近日在IEEE期刊(国际电气与电子工程师学会,全球最大的电子电气技术学术组织之一)上发表了一项“两步循环刻蚀”工艺,针对硅与硅锗交替堆叠的64层/64对结构,刻蚀选择比做到了500:1以上,结构均匀度超过95%。消息出来后,市场的第一反应是国产存储是不是找到了一条不用EUV光刻机(极紫外光刻机,当前最先进的芯片光刻设备,全球基本就荷兰那一家独供)也能往前走的路。但真正值得拆开的,不是“绕开”这一策略本身,而是绕开之后,整条产业链的标尺正在被谁重新定义。

先把这事的技术底交代清楚。根据半导体产业纵横和腾讯新闻的报道,北方华创这套工艺分两步走:第一步用无偏置的氟自由基对硅锗层做定点刻蚀,同时对硅层保持高选择性,还在硅层表面形成一层氟化锗保护膜;第二步引入反应气体清理底部副产物,保证气体能垂直往下穿透。难在哪?难在几十层交替材料堆在一起,要精准挖掉其中一层而不伤到隔壁,深孔里横向还不能刻歪。过去这类高深宽...

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